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本发明提供一种分栅快闪存储器及其形成方法,在所述分栅快闪存储器的形成方法中,在形成浮栅的同时形成了浮栅尖端,整个过程并没有增加工艺步骤,同时,新增的浮栅尖端增强了存储单元的擦除能力,大幅度提高了电流Ir1的数值,降低了擦除时擦除栅上的擦除电压,从而降低了读操作干扰,以及低电压读操作的分栅式闪存的静态功耗和动态功耗。另外还使得后续工艺形成的源线仅影响擦除效率,并不会对沟道产生影响,有助于改善存储单元的耐久度特性。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112530956 A
(43)申请公布日 2021.03.19
(21)申请号 202011264165.1
(22)申请日 2020.11.12
(71)申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司
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