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本发明公开了一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法、系统及存储介质，基于现有的SCADA平台和61850通讯采集二次设备提供的光纤接口发送光强数据，二次设备光强测量数据入历史库，在每个给定时间间隔内分别计算光强的算数平均值和标准差，分别用来评价光模块的老化程度和稳定性；使用最小二乘法对计算得到的所有平均值和标准差分别进行自适应回归分析，得到两个回归方程；检修人员通过SCADA监控后台实时给定光强强度检修阈值和光强标准差检修阈值，获得基于回归方程的建议检修时间。本发明有效地提升了过程层光模块的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112559967 A
(43)申请公布日 2021.03.26
(21)申请号 202011426359.7 (51)Int.Cl.
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