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2023-06-01 发布于北京
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闭环测试的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质.pdf

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本申请提供了一种闭环测试的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。该闭环测试的方法，包括：获取软件的PRD文档；基于PRD文档，确定软件中各模块、功能和拆分操作间的层级关系和关联关系；根据使用频次和重要性，对拆分操作进行优先级标注；根据层级关系、关联关系和预设的组合规则，将拆分操作组合成测试场景。根据本申请实施例，通过对模块分类、子功能、操作的极限拆分和串联组合，从而保证了测试人员在时间充足时更好地保证测试进度，在时间不足时做正确的测试，提高时间利用率；同时，本申请中通过组合规则的覆盖，也减少

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116185831 A (43)申请公布日 2023.05.30 (21)申请号 202211677577.7 (22)申请日 2022.12.26 (71)申请人北京元年科技股份有限公司地址

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