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本发明公开了基于扩展联合测试行动组的控制器及其使用方法。本发明的目的是通过降低IC的功耗使集成电路的测试更容易，但同时为超低功耗IC提供相同的功能，这将通过扩展联合测试行动组(JTAG)控制器来解决，该控制器通过使用集成电路(IC)上的扫描基础结构的可测性设计来测试构成该电路中数字单元的内部存储元件，其中JTAG控制器由用于IC中所有数字单元的总复位发生器扩展而来，而有限状态机控制总复位发生器。在复位模式下，JTAG控制器停止至少一个时钟模块向应复位的数字单元进行传输；然后将所有扫描链设置为测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112585486 A
(43)申请公布日 2021.03.30
(21)申请号 201880096698.8 (51)Int.Cl.
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