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本申请属于半导体自动化测试技术领域。具体提供了失效数据的存储方法、修复方法和失效数据的存储装置，该失效数据的存储方法包括对加载于被测芯片上的激励信号进行响应，生成响应信号；所述激励信号由自动测试设备的图形发生器产生；将所述响应信号和所述激励信号进行逻辑比较，获得比较结果，并对所述比较结果进行第一标记；所述比较结果包括失效数据和正常数据；将所述比较结果按照预设规则分组并根据所述第一标记对各个组进行第二标记；将所述各个组以及所述各个组所对应的第二标记进行存储。基于本申请提供的技术方案，可以提高存储效
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116185276 A
(43)申请公布日 2023.05.30
(21)申请号 202211097213.1
(22)申请日 2022.09.08
(71)申请人 北京冠中集创科技有限公司
地址
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