IC芯片检测装置.pdfVIP

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  • 2023-06-02 发布于四川
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本发明提供一种IC芯片检测装置,其包括机台、上料机构、检测机构和收料机构,机台包括顶部的顶板和侧面的斜板,上料机构设置在机台上,用于运输IC芯片,检测机构设置在斜板上,且位于上料机构下方,用于对上料机构运输过来的IC芯片进行检测,收料机构设置在斜板上,且位于检测机构下方,用于接收检测机构检测后的IC芯片并分类收纳,本发明的IC芯片检测装置,可以同时对两条轨道的芯片进行检测,检测字符时特制光源上的字符光源单独使用,检测引脚时背光源和特制光源上的引脚光源一起使用,倾斜的运料轨道,利用IC芯片自身的重

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112604983 B (45)授权公告日 2022.06.14 (21)申请号 202011378793.2 B07C 5/36 (2006.01)

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