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本申请属于半导体芯片测试的技术领域。具体提供了一种DDR芯片的修复路线的确定方法及装置，该方法包括：对DDR芯片进行测试获得测试数据；从所述测试数据的失效数据中获取失效的行数量、失效的列数量和失效数据的总数量；其中，所述失效的行是指含有失效数据的行，所述失效的列是指含有失效数据的列；根据所述失效的行数量和所述失效的列数量判断所述DDR芯片是否满足第一修复约束条件；根据所述失效数据的总数量判断所述DDR芯片是否满足第二修复约束条件；当满足所述第一修复约束条件且满足所述第二修复约束条件时，采用二叉树
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116189748 A
(43)申请公布日 2023.05.30
(21)申请号 202211100315.4
(22)申请日 2022.09.08
(71)申请人 北京冠中集创科技有限公司
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