一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机.pdfVIP

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2023-06-02 发布于四川
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一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机.pdf

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本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。所述下料机包括：控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；数据采集器和器件抓取机构均与控制器连接，器件测试盘下料机用于将放置有待分拣器件的器件测试盘传送至器件取料区；器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，器件放置区包括良品区和不良品区；数据采集器用于采集器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，放置位置为良品区或不良品区；控制器用于根据测试数据控制器件抓取机构将器件

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112588592 B (45)授权公告日 2022.06.21 (21)申请号 202011385204.3 B07C 5/02 (2006.01)