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本发明提供了一种缩合型硅树脂取代度的测试方法,属于硅树脂技术领域。通过对待测样品前处理后,采用核磁共振法、电感耦合等离子光谱(ICP)法或滴定法,测定缩合型硅树脂中各非活性取代基团R的摩尔分数、活性基团X的摩尔分数、活性基团X与非活性取代基团R的物质的量之比、硅元素占硅树脂总质量的质量分数,计算缩合型硅树脂的取代度(R/Si比),为硅树脂结构提供理论基础,便于硅树脂产品质量控制和对未知组分的硅树脂进行结构解析等。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112557640 B
(45)授权公告日 2022.07.19
(21)申请号 202011586691.X (51)Int.Cl.
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