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本发明提供一种电极结构体检查方法，其可短时间且高精度地判断包括阴极电极层、电解质层、及阳极电极层的电极结构体有无缺陷。电极结构体检查方法是利用图像处理装置来判定包括阴极电极层、电解质层、及阳极电极层的电极结构体有无缺陷的方法，包括：沿扫描方向扫描电极结构体，获取电极结构体的连续的X射线透射图像的步骤；将X射线透射图像的各像素的浓淡数值化的步骤；计算特定像素的浓淡值、与沿着扫描方向相对于所述特定像素位于前方或后方的多个比较像素的浓淡值的中央值的差值的步骤；以及基于差值与规定的判定阈值的比较来判定有
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112577978 A
(43)申请公布日 2021.03.30
(21)申请号 202010666360.0
(22)申请日 2020.07.10
(30)优先权数据
2019-1805
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