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本揭示公开一种阵列基板及测量所述阵列基板电容的方法。所述方法包含：在待测像素单元中，切断第一薄膜晶体管及共享薄膜晶体管与数据线之间的连接，使从像素电极仅与数据线电连接；在相邻像素单元中，切割主像素电极及公共电极线，并设置至少一个导通孔，以使主像素电极仅与公共电极线电连接；及测量待测像素单元的从像素电极与相邻像素单元的主像素电极之间的电容，以获得待测像素单元中的数据线与公共电极线之间的电容。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112631030 B
(45)授权公告日 2022.04.01
(21)申请号 202011411637.1 G01R 27/26 (2006.01)
(22)申请日
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