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伪影校正分析方法、电子设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2023-06-03 发布于四川
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伪影校正分析方法、电子设备及存储介质.pdf

    本发明提供一种伪影校正分析方法、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待校正图像；将所述待校正图像输入预设的伪影校正模型，得到所述待校正图像的目标伪影校正图像；其中，所述伪影校正模型用于预测所述待校正图像的初步伪影校正图像，并对所述初步伪影校正图像进行细节修复，得到所述待校正图像的目标伪影校正图像。本发明能够避免伪影校正后的图像丢失细节，提高图像伪影校正的准确性。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112652031 A (43)申请公布日 2021.04.13 (21)申请号 202011606804.8 (22)申请日 2020.12.30 (71)申请人 上海联影智能医疗科技有限公司

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