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本发明提供了一种基于微振动干扰的光学载荷成像性能测量方法及系统，包括：将光学载荷通过转接工装固定在专用的微振动激励台上；将光路生成系统安装在高度可调节平台上；完成光路生成系统的调试，使其产生的光线可以垂直射入光学载荷内；完成光学载荷的自检，测量在无微振动干扰输入情况下，光学载荷的成像性能；通过微振动激励台给光学载荷提供微振动干扰，获取不同微振动干扰下光学载荷的成像性能。本发明适用范围更广，在轨环境模拟程度高，能准确地获取光学载荷在星上微振动干扰环境下的成像性能，为光学载荷的优化设计和评价选用提供
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112629830 A
(43)申请公布日 2021.04.09
(21)申请号 202011418872.1
(22)申请日 2020.12.07
(71)申请人 上海卫星工程研究所
地
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