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本发明实施例公开一种芯片中线性稳压器的测试方法、装置及设备。该方法包括：在芯片启动后，连接待测的线性稳压器；设置电源电压为线性稳压器的最大工作电压；在旁路测试模式下，测得芯片的第一输出电压；在三个不同的偏压测试模式下，测得芯片的三个输出电压；根据最大工作电压、第一输出电压、三个输出电压以及偏压测试模式的偏移值计算线性稳压器的参数。本发明可利用线性稳压器自身的参数，做到个性化独立管理和应用，最大程度精准发挥每个线性稳压器的功能，以此不仅提升了芯片良率，同时芯片在可靠性试验中的表现也有较大改善。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112649719 A
(43)申请公布日 2021.04.13
(21)申请号 202011384592.3
(22)申请日 2020.11.30
(71)申请人 成都海光集成电路设计有限公司
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