一种获取无基准位置度的方法.pdfVIP

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本发明涉及一种获取无基准位置度的方法,用于获取加工件上多个孔的位置度,包括:步骤1,所述加工件的加工面上被加工出多个均匀布置的孔;步骤2,通过三坐标测量机测量所述加工件的加工面;步骤3,通过所述加工面构建坐标系;步骤4,通过所述坐标系来修改所述孔在所述加工面上理论值;步骤5,通过Rational‑DMIS测量软件根据该理论值得出所述位置度,通过将每行圆元素以及每列圆元素采用拟合公式产生拟合线,以拟合线建立坐标系,此坐标系的建立均衡了各方向上的圆元素的极角与极径误差,减少了不同位置的圆元素的误差累

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112683208 B (45)授权公告日 2022.06.10 (21)申请号 202011398720.X CN 108168479 A,2018.06.15 (22)申请日 20

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