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- 2023-06-04 发布于四川
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本发明公开了一种AOI特殊扫描作业的方法,所述AOI特殊扫描作业包括以下步骤:步骤一:AOI扫描对比,所述AOI扫描对比包括基准点对位和原始文件与生产文件对比,所述述原始文件和生产文件对比包括根据PCB设计和进行原始文件拼板,在调整前,对扫描区域进行全面扫描(不区分PL区域);步骤二:扫描结果分区域检验;步骤三:使用EditMap进行调整;步骤四:作业流程对比;步骤五:根据客户不同检验需求可调整Map分特殊区域作业;步骤六:针对Map框选有效区域扫描作业;步骤七:AOI扫描最终结果。该AOI特
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112697813 A
(43)申请公布日 2021.04.23
(21)申请号 202011549759.7
(22)申请日 2020.12.24
(71)申请人 江苏汇成光电有限公司
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