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本发明涉及SSDBIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：预先配置设定测试温度和BIST测试时长；控制温箱升温，当温度达到设定测试温度时，对SSD进行上电，开始测试；实时获取SSDBIST测试日志信息，当达到设定BIST测试时长时，测试停止，保存SSDBIST测试日志信息。本发明通过将温箱控制和SSDBIST测试日志收集功能集成统一，不仅实现了SSDBIST测试过程自动上电、温度控制、设定、自动下电，同时针对SSDBIST测试过程日志信息进行收集保存，有效进行
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112687322 A
(43)申请公布日 2021.04.20
(21)申请号 202110019942.4
(22)申请日 2021.01.07
(71)申请人 东莞记忆存储科技有限公司
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