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应用于测试电子元件的测试分选装置.pdfVIP

应用于测试电子元件的测试分选装置.pdf

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    本申请涉及应用于测试电子元件的测试分选装置，所述装置包括机台、设于机台的测试室；所述机台还设有与所述测试室管道连接的换热设备，所述换热设备对外界输入的气体进行冷热交换后输入至所述测试室，输入至所述测试室的气体用于调整所述测试室的测试温度；所述机台还设有与所述换热设备管道连接的冷媒物质压缩设备，所述冷媒物质压缩设备用于压缩冷媒物质并为所述换热设备提供冷媒物质，解决了相关技术中冷媒输送装置和测试装置搬运不便利的问题，提高了测试分选装置搬运的便利性。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112718550 A (43)申请公布日 2021.04.30 (21)申请号 202011436506.9 (22)申请日 2020.12.11 (71)申请人 杭州长川科技股份有限公司

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