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本申请公开一种非接触纳米薄膜张力测试系统和方法。非接触纳米薄膜张力测试系统包括测量组件、位移测量部、直流电源以及采集数据模块。测量组件包括电极板、定位板以及支撑部，支撑部设于电极板和定位板之间，用于组装纳米薄膜，使纳米薄膜平行于电极板，定位板形成有定位孔，定位孔被配置为处于纳米薄膜的正上方。位移测量部设于定位孔的正上方，用于测量纳米薄膜的扰度。直流电源被配置为电压可调，且直流电源的正极用于连接纳米薄膜，直流电源的负极连接电极板。采集数据模块与位移测量部连接。本申请提供的技术方案能够以低成本、高测
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112730067 A
(43)申请公布日 2021.04.30
(21)申请号 202011644435.1
(22)申请日 2020.12.30
(71)申请人 松山
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