金属氮化物薄膜沉积方法.pdfVIP

  • 4
  • 0
  • 约1.27万字
  • 约 12页
  • 2023-06-06 发布于四川
  • 举报
本发明实施例提供一种金属氮化物薄膜沉积方法,应用于半导体设备的工艺腔室,包括以下步骤:S1、对衬底进行加热,以去除衬底上的杂质;S2、向工艺腔室中通入氮气,并开启偏压电源,激发氮气形成等离子体,以通过使等离子体轰击衬底的表面来去除残留的杂质,并与衬底表面上的金属原子反应形成金属氮化物缓冲层;S3、进行溅射工艺,以在金属氮化物缓冲层上沉积形成金属氮化物薄膜。本发明实施例提供的金属氮化物薄膜沉积方法,其不仅可以完全去除衬底的水汽和与衬底表面结合较紧固的杂质,而且还可以减少金属氮化物薄膜的应力,从而可

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112760602 B (45)授权公告日 2022.08.16 (21)申请号 202011469751.X (74)专利代理机构 北京天昊联合知识产权代理

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档