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- 2023-06-06 发布于四川
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本申请提供一种3DNAND存储器件及其制造方法,3DNAND存储器件的制造方法中,可以提供衬底,衬底包括相邻的核心存储区和台阶区,衬底的台阶区形成有介质层结构,在衬底上以及介质层结构的朝向核心存储区的侧壁上,依次交替层叠绝缘层和牺牲层形成堆叠层,衬底上的堆叠层在堆叠方向上的厚度小于或等于介质层结构的厚度,介质层结构的侧壁上的堆叠层的堆叠方向垂直于该侧壁,将牺牲层替换为栅极层,介质层结构的侧壁上的栅极层用于连接引出结构,这样,介质层结构的侧壁上的栅极层的接触部可以设置在同一水平面,这样不会因此
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112768458 A
(43)申请公布日 2021.05.07
(21)申请号 202110130390.4
(22)申请日 2021.01.29
(71)申请人 长江存储科技有限责任公司
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