样本分析仪用光度计的光路系统.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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本发明提供一种样本分析仪用光度计的光路系统,用于解决现有技术中射入到比色容器的光斑不均匀的问题。在光路上依次包括:前光路系统、比色容器和后光路系统;所述前光路系统包括光源、聚光透镜和光阑;经过所述光阑的光束穿过所述比色容器并进入到后光路系统。通过聚光透镜和光阑配合,经过聚光透镜之后的光束为平行均匀光束,故聚光透镜后的光阑可自由选择入射到比色容器的光斑大小和形状,实现对光斑的精准控制;同时使光斑均匀,即使入射到比色容器处的光束能量均匀,减弱反应体系中粒子无规则起伏运动对于检测信号的干扰。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112764233 B (45)授权公告日 2022.03.04 (21)申请号 202011609118.6 (56)对比文件

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