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2023-06-06 发布于四川
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一种基于阶梯阻抗谐振结构的多频点介电常数测量装置.pdf

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本发明是一种基于阶梯阻抗谐振结构的多频点介电常数测量装置，测量装置由上至下包括第一介质层、第二介质层和第三介质层，在第一介质层的下表面刻蚀了第一金属层、第二金属层和第三金属层，在第三介质层的上表面刻蚀了第四金属层，在第二介质层的中心设置有填充被测材料的腔体。本发明利用不同宽度的信号线构成不同阻抗大小的微带线，从而形成阶梯阻抗谐振结构，该结构在宽频带内能够产生多个离散的谐振频点，通过矢量网络分析仪测得的电磁参数和电磁仿真软件HFSS仿真出的电磁参数，可以推导出被测固体或液体或固体粉末的腔体内的被测

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112782486 B (45)授权公告日 2023.04.07 (21)申请号 202110103507.X 审查员邢丹君 (22)申请日 2021.01.26

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