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本申请提供一种芯片检测方法、装置和存储介质，通过在芯片检测时间获取逻辑内建自测试模块产生的扫描数据，将此扫描数据输入待测逻辑模块进行处理，获取待测逻辑模块输出的检测结果，与获取的同一扫描数据对应的标准检测结果进行比较，得到比较结果，并根据此比较结果判断芯片的工作状态正常与否，实现了对芯片状态的检测，且检测结果更为全面、准确。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112817807 A
(43)申请公布日 2021.05.18
(21)申请号 202110171836.8
(22)申请日 2021.02.08
(66)本国优先权数据
2020101
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