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一种限幅器芯片大信号指标的测试系统及方法.pdf

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    本发明涉及限幅器芯片测试领域，具体涉及一种限幅器芯片大信号指标的测试系统及方法，系统包括信号源，与信号源依次连接的功率放大器、隔离器和耦合器，与功率放大器依次连接的电源调制器和直流源，分别与耦合器连接的第一衰减器、第二衰减器和环形器，第一衰减器连接第一功率计，第二衰减器连接第一负载，环形器连接第二负载，还包括与环形器依次连接的限幅器芯片测试装置、第三衰减器和第二功率计。该系统安装方便，统一接口，易于使用，解决了限幅器芯片连线困难无法开展测试的问题，可以使限幅器芯片大信号指标的测试顺畅进行。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112798927 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 202011572718.X (22)申请日 2020.12.24 (71)申请人 武汉大学 地址 43

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