基于应答模式的光电扫描测量系统的坐标测量方法.pdfVIP

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2023-06-07 发布于四川
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基于应答模式的光电扫描测量系统的坐标测量方法.pdf

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本发明公开了一种基于应答模式的光电扫描测量系统坐标测量方法，包括：应答式发射站在每个测量周期起始时，通过导线传输同步信号到处理器，记录传输时间；应答式发射站向测量空间中发射扫描激光，由中继应答单元捕获扫描光，中继应答单元处理扫描光信号并向空间发射应答激光，由发射站记录应答激光的接收时间tpi；构建应答式发射站几何测量模型，由传输时间接收时间和发射站参数得到扫描光平面的旋转角度，进而解算得到空间中点的坐标。本发明获取精确的测量扫描光到达时间，突破了传统测量机制的测量距离受限的问题，可行性好、构建灵

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115728773 A (43)申请公布日 2023.03.03 (21)申请号 202211413266.X (22)申请日 2022.11.11 (71)申请人天津大学地址 300072 天津