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- 2023-06-08 发布于四川
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本发明题为“用于X射线成像中的参数噪声调制的方法和系统”。本发明提供了用于x射线成像的各种方法和系统。在一个实施方案中，一种方法包括：采集受检者的图像；基于图像和多个参数生成包括图像的每个像素中的噪声估计量的噪声调制图；基于噪声调制图选择性地降低图像中的噪声以生成最终图像；以及显示最终图像。这样，可降低成像期间的辐射剂量，同时保持或甚至改善图像质量。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112842370 A
(43)申请公布日 2021.05.28
(21)申请号 202011282170.5
(22)申请日 2020.11.16
(30)优先权数据
62/941,69
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