一种基于双4f相位相干成像技术的非线性折射光谱的测量装置和测量方法.pdfVIP

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2023-06-08 发布于四川
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一种基于双4f相位相干成像技术的非线性折射光谱的测量装置和测量方法.pdf

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一种基于双4f相位相干成像技术的非线性折射光谱的测量装置和测量方法，它涉及非线性光子学材料和非线性光学信息处理领域，本发明采用相位型空间光调制器取代传统的4f相位相干成像系统中的相位物体，搭建双4f相位相干成像系统，配合波长可调谐的激光系统，实现光学材料非线性折射光谱的测量。本发明使用相位型空间光精确调控不同激发波长下，入射光中心位置光斑与周围光斑的相位差，弥补了相位物体在不同波长下中心位置光斑与周围光斑相位差发生变化的缺点。通过波长可调谐的飞秒激光器结合可调谐相位差的“相位物体”实现多级波段的

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116223442 A (43)申请公布日 2023.06.06 (21)申请号 202310039303.3 (22)申请日 2023.01.12 (71)申请人哈尔滨工业大学地址 15000