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本发明公开了一种集成电路仿真方法，包括：S1，基于集成电路的非电学域进行第一次仿真，获得影响电学域的第一电学域参数值，利用第一电学域参数值为第二仿真更新影响电学域的参数值；S2，进行第二仿真，获得影响非电学域第二非电学域参数值，利用第二非电学域参数值为第一仿真更新影响非电学域的参数值；S3，循环重复S1、S2，直到仿真结束。一种集成电路仿真系统，包括第一仿真模块、第一参数值获得模块、第二仿真参数值更新模块、第二仿真模块、第二参数值获得模块、第一仿真参数值更新模块和跨域仿真调度控制模块。本发明大大
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112836454 B
(45)授权公告日 2022.03.08
(21)申请号 202110302151.2 (56)对比文件
(22)申请日 2021.03.22
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