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一种集成电路测试装置及测试方法.pdfVIP

一种集成电路测试装置及测试方法.pdf

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    本发明公开了一种集成电路测试装置，包括用于装载集成电路的测试平台，设置在测试平台外周侧的测试装置，以及与所述测试装置电性连接的中心控制系统。本发明为集成电路各个测试引脚均设置有独立的测试通道，实现对相邻测试引脚间的隔绝作用同时避免相邻测试引脚在测试探针的连接下出现重复误触导致测试短路，保证测试的准确性，而且利用移位机构控制测试通道与所述集成电路测试引脚呈相同间距排布，能够适应各种类型的集成电路的测试，从而提高了整体装置的适应性。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112881884 A (43)申请公布日 2021.06.01 (21)申请号 202110040512.0 (22)申请日 2021.01.13 (71)申请人 杨木兰 地址 510

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