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本发明公开了一种基于集成学习的软件缺陷预测方法、存储介质和计算设备,方法包括首先进行软件模块预处理;然后构建基于神经网络的特征提取网络,提取出软件模块的语义特征;再通过挖掘软件缺陷跟踪系统或软件历史仓库,设计各种可衡量软件质量好坏的内在度量元;接着基于语义特征和内在度量元,利用分类算法分别训练得到多个基分类器;最后基于集成学习融合多个基分类器,获得最终的软件模块预测结果。本发明充分利用了软件模块的不同特征,可准确预测软件缺陷。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112905468 A
(43)申请公布日 2021.06.04
(21)申请号 202110192553.1
(22)申请日 2021.02.20
(71)申请人 华南理工大学
地址
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