存储器失效地址的输出方法及相关设备.pdfVIP

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2023-06-10 发布于四川
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本申请实施例通过提供一种存储器失效地址的输出方法及相关设备，用以解决现有的存储器失效地址输出过程效率较低的问题。上述方法包括：获取目标存储器的结构信息；根据测试数据记录失效信息，测试数据为测试设备对目标存储器测试后得到的失效地址，失效信息包含目标存储器中每个层级包含的失效地址数量；根据失效信息按照层级进行分析，确定目标存储器的失效类型，其中，失效类型包括第一失效类型及第二失效类型，第一失效类型用于表征目标存储器中失效单元按照整个层级失效，第二失效类型用于表征失效单元呈散点分布；根据预设输出策略，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112927751 A (43)申请公布日 2021.06.08 (21)申请号 202110303962.4 (22)申请日 2021.03.22 (71)申请人西安紫光国芯半导体有限公司