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一种用于测量来自被测装置(DUT)的调制射频(RF)信号的方法包括：将测试RF信号输入至所述DUT，其中，使用脉冲波形和重复的复波形调制所述测试RF信号，所述重复的复波形包括具有RF频调间隔和RF重复周期的多个RF频调，其中，所述脉冲波形的脉冲宽度小于所述RF重复周期；响应于所输入的测试RF信号从所述DUT获取输出RF信号；将所述输出RF信号下变频为中频(IF)信号；使用具有ADC时钟频率的模数转换器(ADC)对所述IF信号进行采样；测量所述IF信号的ADC样本；并且使用所测量的ADC样本来重构
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112953656 A
(43)申请公布日 2021.06.11
(21)申请号 202011184472.9
(22)申请日 2020.10.29
(30)优先权数据
62/928,10
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