基于神经通路的中毒模型测试方法、装置及系统.pdfVIP

基于神经通路的中毒模型测试方法、装置及系统.pdf

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本发明公开了一种基于神经通路的中毒模型测试方法、装置及系统,包括以下步骤:(1)获取待检测模型,并将测试样本输入至待检测模型中,计算待检测模型的Top‑k神经通路;(2)依据Top‑k神经通路和测试样本的预测值与真实标签的交叉熵构建损失函数,并将损失函数的梯度值作为扰动添加到测试样本得到扰动样本;(3)利用待检测模型获得测试样本的预测标签和扰动样本的预测标签后,并根据预测标签计算测试样本的标签变化率,依据标签变化率判断待检测模型是否中毒。根据模型内部神经元与神经元、层与层之间的联系,探索中毒模型

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112948237 A (43)申请公布日 2021.06.11 (21)申请号 202110128978.6 (22)申请日 2021.01.29 (71)申请人 浙江工业大学 地址

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