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本发明公开了一种可用于高频测试的光学芯片检测座，具体涉及芯片检测领域，包括箱体，所述箱体设有滑槽一，所述滑槽一上部滑动连接有多个转动滑块，多个所述转动滑块上部固定连接有转盘，所述转盘内部设有多个固定槽，多个所述固定槽为倒置锥形，且多个所述固定槽内部均固定连接有限位块，所述箱体左侧固定连接有连接柱，所述连接柱右侧设有滑槽二，所述滑槽二内部滑动有多个T形滑块，多个所述T形滑块远离连接柱一侧固定连接有上检测座，所述上检测座下部固定连接有安装板，所述安装板内部固定连接有多个探测针。本发明在进行检测时机械
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113009320 A
(43)申请公布日 2021.06.22
(21)申请号 202110224616.7
(22)申请日 2021.03.01
(71)申请人 深圳市容微精密电子有限公司
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