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本发明提供了一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置。所述电源干扰测试装置包括数字集成电路测试仪和外围驱动电路，数字集成电路测试仪包括可编程电源和数字通道，其中，可编程电源连接外围驱动电路，可编程电源连接数字通道，数字通道连接外围驱动电路，数字通道连接外部大容量SIM卡芯片的芯片测试管脚。本发明的电源干扰测试装置中，可编程电源向外围驱动电路提供工作电源，数字通道产生高频方波，并将高频方波输出到外围驱动电路的输入端，外围驱动电路产生高频扰动电源到达外部大容量SIM卡芯片的电源端，能够保证大容
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112986788 A
(43)申请公布日
2021.06.18
(21)申请号 20191
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