- 1、本文档共15页,其中可免费阅读14页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本申请公开了一种接口测试方法、测试系统及计算机存储介质,该方法应用于接口测试系统,接口测试系统包括待测试芯片、测试芯片以及测试设备,接口测试方法包括:利用测试设备对测试芯片进行配置,其中,测试芯片与待测试芯片均包括MIDO接口;利用测试设备控制测试芯片的MIDO接口向待测试芯片发送操作请求或控制测试芯片的MIDO接口对待测试芯片发送的操作请求进行处理;利用测试设备判断操作请求是否被执行;若操作请求被执行,则记录执行结果,并保存执行结果;其中,待测试芯片为实体芯片,测试芯片为虚拟芯片。通过上述方式
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112986806 A
(43)申请公布日
2021.06.18
(21)申请号 20191
文档评论(0)