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本发明提供一种反射率测量装置，包括棱形双面镜和平面反射镜，棱形双面镜具有第一反射面和第二反射面，平面反射镜设置在第一反射面的反射光路上，光学元件设置在平面反射镜的反射光路上，探测光入射至第一反射面，并反射到平面反射镜，再经平面反射镜反射至光学元件的表面，光学元件的反射光经第二反射面的反射后沿探测光的原光路射出。与多块反射镜结构相比，本发明只采用棱形双面镜+平面反射镜的结构，探测光只需要经过4次反射，就能被探测器接收，这最大程度地减少了探测光的损失，提高了反射率测量的准确度。同时解决了2个反射镜设
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112986190 B
(45)授权公告日 2022.01.28
(21)申请号 202110205892.9 G01N 21/31 (2006.01)
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