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一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质.pdfVIP

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  • 2023-06-11 发布于四川
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一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质.pdf

    本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括：根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率；根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量；根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量；根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112994786 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 20191

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