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本发明提供一种控制装置、系统、方法以及程序,有效利用衍射计的测角器所具备的轴,即便不具有特别的轴结构,也能够进行伴随轴的精密的入射角度的控制。控制装置对试样的姿势进行控制,其具备:输入部,接受表示试样相对于轴的倾斜的倾斜信息的输入;调整量决定部,使用倾斜信息,决定用于相对于变化的值来对试样面法线或者晶格面法线与散射矢量的偏离量进行修正的ω值以及χ值的调整量;和驱动指示部,在X射线衍射测定时,基于所决定的ω值以及χ值的调整量,与试样的轴旋转相应地驱动测角器。这样,能够将消除不受轴的旋转的影响的试样
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112986291 A
(43)申请公布日 2021.06.18
(21)申请号 202011435523.0
(22)申请日 2020.12.10
(30)优先权数据
2019-2258
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