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激光扫频干涉测量的非线性校正与量程扩展装置及方法.pdfVIP

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  • 2023-06-12 发布于四川
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激光扫频干涉测量的非线性校正与量程扩展装置及方法.pdf

    本发明提供一种用于激光扫频干涉测量的非线性校正与量程扩展装置及方法。装置中的分束器将可调谐激光器发出的激光分为两束进入主光路和辅助光路，由于可调谐激光器发出频率可被线性调制的信号，并且主光路中的延迟单模光纤和辅助光路中的延迟单模光纤的由于长度不同，导致双光路中的信号形成光程差，从而构成基本的迈克尔逊干涉仪，产生干涉现象。数据采集卡将采集到的信息数据输送至计算机，再结合扩相频率采样法对信号做处理，即通过对辅助干涉仪拍相位的扩展，使系统满足奈奎斯特采样定律，完成对测量信号拍频非线性校正。有益效果：利

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113029034 A (43)申请公布日 2021.06.25 (21)申请号 202110337099.4 (22)申请日 2021.03.26 (71)申请人 中国计量大学 地址

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