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用于管理存储器装置中与温度有关的故障的装置、方法和系统。检测存储器块的擦除故障，且如果所述存储器装置温度低于阈值温度，则将所述存储器块标记为生长不良块。如果所述温度超出所述阈值温度，则确定所述块的存储器单元是否超出第一阈值电压。如果所述块的所述存储器单元超出所述第一阈值电压，则将所述块标记为潜在生长不良块。如果所述块的所述存储器单元低于所述第一阈值电压，则确定所述块的若干所述存储器单元是否超出第二阈值电压。如果所述块的所述存储器单元低于所述第二阈值，则对所述块进行编程。如果所述块的所述存储器单元
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113094202 A
(43)申请公布日 2021.07.09
(21)申请号 202010504357.9
(22)申请日 2020.06.05
(30)优先权数据
16/737,55
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