应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法.pdfVIP

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2023-06-13 发布于四川
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应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法.pdf

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本发明提出了一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，包括以下步骤：S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式LongHMode；S2、在该模式下，当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。基于本方案，虽然坑的长度不够扫描一次，通过软件配置，让触控面板TP在第一个坑内进行CA的充电，在第2个坑内进行AD的采样，2个坑扫一次也可以避开显示面板DP信号干扰，从

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113064526 B (45)授权公告日 2023.03.28 (21)申请号 202110396897.4 (56)对比文件 (22)申请日 2021.04.13