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本发明涉及激光光谱领域和量子光学领域，具体是一种可测量微波的里德堡原子相位噪声光谱产生装置和方法。装置中，探测光源发出的探测光经第一双色镜后入射到原子气室，耦合光源发出的耦合光经电光相位调制器进行相位调制增加相位噪声后，经第二双色镜后与探测光反向重合入射至原子气室；经原子气室透射后的探测光经第二双色镜后入射到探测器，探测器进行光电转化为输出电信号至频谱分析仪；频谱分析仪用于在相位调制频率处分析里德堡原子相位噪声光谱。本发明通过激光系统的相位噪声调制，可以在MHz分析频段获得里德堡光谱，提高了里德
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113067642 B
(45)授权公告日 2022.07.19
(21)申请号 202110224451.3 CN 109067682 A,2018.12.21
(22)申请日 20
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