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本发明公开了一种堆叠半导体器件封装结构及其制备方法。堆叠半导体器件封装结构包括:基板;层叠设置于基板上的n个芯片,第一个芯片与基板的距离最小,距离基板越近,芯片的尺寸越大;第k个芯片远离基板的表面以及靠近基板的表面均设置有连接部,第k个芯片通过靠近基板表面的连接部连接第k‑1个芯片;其中,2≤k≤n,k和n均为正整数;导电连接体,导电连接体设置基板上,并位于芯片的周围;塑封体,塑封体塑封各芯片和导电连接体,并暴露出导电连接体和第n个芯片远离基板表面的连接部;重布线层,连接暴露出的导电连接体和暴露
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113140550 A
(43)申请公布日 2021.07.20
(21)申请号 202110564451.8
(22)申请日 2021.05.24
(71)申请人 湖南
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