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本发明提供一种外延层的生长方法,包括提供裸晶圆;在裸晶圆表面生长第一外延层,第一外延层掺杂;在第一外延层表面生长第二外延层,第二外延层不掺杂;重复生长第一外延层和第二外延层直至达到预设厚度;通过SEM分析表面形貌以及粗糙度,STEM切片确认各层厚度以及平均的生长速率。本发明采用交替生长方式进行外延层的生长,在掺杂导致晶圆表面电子积累电位变负使生长速率变慢的时,不再进行掺杂,从而使电位变为零电位,有效消除晶圆表面的电子累积效应,提高生长速率;同时在随着掺杂浓度增加,表面粗糙度加大,晶格失配,产生晶
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116259528 A
(43)申请公布日 2023.06.13
(21)申请号 202310033853.4
(22)申请日 2023.01.10
(71)申请人 华虹半导体(无锡)有限公司
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