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本发明涉及集成电路检测设备技术领域,尤其是一种集成电路检测装置及检测方法,包括检测仪,还包括:连接板,连接板与检测仪前侧固定相连;放置板,放置板与连接板之间通过合页进行连接;放置台,放置台与放置板之间通过螺纹可拆卸连接;电路板,电路板位于放置台上侧并且电路板四角设有连接孔;四个导向柱,放置台上侧设有若干定位孔,两个检测针,检测针位于电路板左右两侧和放置板上侧,检测针通过导线连接检测仪;检测端口,检测端口通过导线与检测仪进行连接。设备整体不用时可以将放置板上物品拆卸下来后,可以进行折叠后,使得设备
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116256614 A
(43)申请公布日 2023.06.13
(21)申请号 202310046345.X
(22)申请日 2023.01.31
(71)申请人 无锡芯启博电子有限公司
地址 2
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