- 1、本文档共16页,其中可免费阅读15页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本申请公开了一种测试装置和一种测试方法,测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件,框架悬空设置,框架的一端固定在工作台上,滑轮组件设置于框架上,牵引件与滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端,其中,牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径;通过测试装置连接待测试金属膜层,能通过改变待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径,当待测试金属膜层为覆晶薄膜时,极限
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113188904 A
(43)申请公布日 2021.07.30
(21)申请号 202110378350.1
(22)申请日 2021.04.08
(71)申请人 深圳市华星光电半导体显示技术有
文档评论(0)