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本发明提供观察用治具,其用于容易地观察封装器件芯片等芯片的侧面。观察用治具(2)具有:台(4),其在正面具有对芯片(34)进行保持的粘接层(10);框体(6),其具有与台(4)的背面对应地形成的贯通开口(20),并且该框体(6)将台(4)支承为能够以从躺卧状态变化为立起状态的方式旋转;以及基台(8),其具有突起(30),该突起(30)插入于贯通开口(20)并使台(4)从躺卧状态成为立起状态。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113189098 A
(43)申请公布日 2021.07.30
(21)申请号 202110097309.7
(22)申请日 2021.01.25
(30)优先权数据
2020-0127
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