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- 2023-06-15 发布于四川
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本发明公开了一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法，涉及光纤测量技术领域，双包层光纤纤芯损耗的测试装置包括光源发生装置、待测双包层光纤、光电探测器和包层光滤除组件，所述包层光滤除组件包括前置单包层传能光纤和后置单包层传能光纤；所述前置单包层传能光纤一端接收光源发生装置发出的信号光形成注入端，另一端与待测双包层光纤的始端连接形成连接端；所述后置单包层传能光纤一端向光电探测器传递信号光形成输出端，另一端与待测双包层光纤的末端连接形成连接端。本发明提供的双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法，通过包层光滤
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113203548 A
(43)申请公布日 2021.08.03
(21)申请号 202110305891.1
(22)申请日 2021.03.23
(71)申请人 中国工程物理研究院激光聚变研究
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